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HALT(High Accelerated Life Testing)/HASS(High Accelerated Stress Screen)是ESS 發(fā)展的一個重要方向，目的是通過增加應(yīng)力水平，在最短的時間內(nèi)尋找產(chǎn)品缺陷，并采取糾正措施以提高產(chǎn)品的可靠性。

HALT概述

HALT不是Pass/Fail測試. HALT是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的工序,它通過設(shè)置逐級遞增的加嚴(yán)的環(huán)境應(yīng)力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設(shè)計、 工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，最大的特點是設(shè)置高于樣品 設(shè)計運行限的環(huán)境應(yīng)力，從而使暴露故障的時間大大短于正?？煽啃詰?yīng)力條件下的所需時間。

HASS概述

HASS是產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應(yīng)力篩選。要求100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了 使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過加速應(yīng)力方式以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品。

簡單地講：在產(chǎn)品的研制階段和生產(chǎn)階段應(yīng)用HALT/HASS，可顯著縮短產(chǎn)品的研制周期，提高產(chǎn)品可靠性和健壯性，增強(qiáng)產(chǎn)品市場競爭力。在研制階段進(jìn)行的HALT，是發(fā)現(xiàn)設(shè)計薄弱環(huán)節(jié)、確定產(chǎn)品極限應(yīng)力的有效手段，為生產(chǎn)階段進(jìn)行HASS 打下基礎(chǔ)，保障保證產(chǎn)品在高應(yīng)力下的篩選不致造成永久性損傷。HALT 可以采用單應(yīng)力，也可采用綜合應(yīng)力，應(yīng)力類型一般為溫度循環(huán)、隨機(jī)振動和溫度，與傳統(tǒng)ESS 相比，溫度范圍更寬，溫變率更高、隨機(jī)振動量級更高，也可以先進(jìn)行單項應(yīng)力的HALT，再進(jìn)行綜合溫度循環(huán)和振動應(yīng)力的HALT，如果試驗中發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品缺陷都得到改正，產(chǎn)品的設(shè)計就可達(dá)到非?？煽康某潭?。在生產(chǎn)階段進(jìn)行的HASS，可以是單項應(yīng)力或綜合應(yīng)力，應(yīng)力水平主要根據(jù)HALT 的極限應(yīng)力結(jié)果確定，在保證不消耗過多壽命的前提下，在短時間內(nèi)盡量剔除由工藝、元器件引起的缺陷，消除早期缺陷。

設(shè)計HALT和HASS的目的是提高產(chǎn)品的可靠性，而不是衡量產(chǎn)品可靠性的水平。與只是衡量產(chǎn)品可靠性水平而完全不能提高產(chǎn)品可靠性的可靠性驗證和平均失效時間相比，這種方法更積極，這也是HALT和傳統(tǒng)方法最主要的區(qū)別。